ZY6034A 低溫卷繞試驗(yàn)裝置
ZY6034A低溫卷繞試驗(yàn)裝置,:需要與低溫箱配套使用,用于考核測定圓形電纜或圓形絕緣線芯在低溫狀態(tài)下的性能。用于測定φ12.5mm以下的圓形絕緣芯線及不能制備啞鈴試樣的扇形絕緣線芯在低溫狀態(tài)下的性能。
- 適用范圍
- 符合標(biāo)準(zhǔn)
- 主要特點(diǎn)
- 主要參數(shù)
- 技術(shù)服務(wù)
適用范圍:
ZY6034A低溫卷繞試驗(yàn)裝置,用于考核測定圓形電纜或圓形絕緣線芯在低溫狀態(tài)下的性能。用于測定φ12.5mm以下的圓形絕緣芯線及不能制備啞鈴試樣的扇形絕緣線芯在低溫狀態(tài)下的性能。
符合標(biāo)準(zhǔn):
2.1 符合GB2951.14-2008第8.1和8.2節(jié)、IEC8011-1-4:2001、JB/T 4278.11- 2011等試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn),與低溫箱配合使用。
主要參數(shù):
3.1機(jī)器尺寸:長380*寬160*高216(mm)。
3.2低溫卷繞試樣直徑:Φ2.5~Φ12.5mm。
3.3卷繞棒直徑:Φ4、Φ5、Φ6、Φ7、Φ8、Φ10、Φ12、Φ14、Φ16、Φ18、Φ20、Φ24、Φ37.5mm共13支。(也可跟據(jù)客戶需求訂制,價格另計)
3.4過線套:Φ3.5、Φ6、Φ10、Φ12、Φ16mm各二件。
3.5試樣纏撓圈數(shù):2~10圈。
3.6裝置材質(zhì):本裝置材質(zhì)所有零配件均使用SUS304不銹鋼制作。
3.7本試驗(yàn)裝置配合我司ZY6034C低溫箱(低溫試驗(yàn)箱需另購)使用。